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三豐Mitutoyo影像儀非接觸 3D 測量系統

簡要描述：三豐Mitutoyo影像儀非接觸 3D 測量系統 Hyper QVWLI
● Hyper QVWLI 是 QV 配備白光干涉儀的復合型高精度 3D 測量系統。
● 可根據 WLI 光學系統獲取的 3D 數據進行三維表面形狀分析 / 三維粗糙度分析。
還可根據 3D 數據，進行高度的尺寸測量和截面形狀測量。

產品型號：Hyper QVWLI
廠商性質：代理商
更新時間：2024-11-26
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日本三豐Mitutoyo

千分尺測微頭內徑測量器卡尺/深度尺指示表/杠桿表測長裝置接觸傳感器非接觸傳感器硬度試驗機光學測量儀影像測量機形狀測量系統三坐標測量機

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詳細介紹

品牌	MITUTOYO/日本三豐	價格區間	10萬-50萬
產地類別	進口	應用領域	能源,電子/電池,汽車及零部件

三豐Mitutoyo影像儀非接觸 3D 測量系統 Hyper QVWLI

● Hyper QVWLI 是 QV 配備白光干涉儀的復合型高精度 3D 測量系統。

● 可根據 WLI 光學系統獲取的 3D 數據進行三維表面形狀分析 / 三維粗糙度分析。還可根據 3D 數據，進行高度的尺寸測量和截面形狀測量。

三豐Mitutoyo影像儀非接觸 3D 測量系統 Hyper QVWLI

規格

型號項目		Hyper QVWLI 302	Hyper QVWLI 404	Hyper QVWLI 606
測量范圍 ( X × Y × Z )	影像測量	300 × 200 × 190 mm	400 × 400 × 240 mm	600 × 650 × 220 mm
	WLI 測量 * 1	215 × 200 × 190 mm	315 × 400 × 240 mm	515 × 650 × 220 mm
WLI 光學測頭裝置
視場 ( H × V )		5X 鏡頭 : 約 0.64 × 0.48 mm/10X 鏡頭 : 約 0.32 × 0.24 mm/ 25X 鏡頭 : 約 0.13 × 0.10 mm/50X 鏡頭 : 約 0.064 × 0.048 mm
Z 軸重復性		2 σ≤ 0.08 µm
影像光學測頭裝置
觀察裝置		程控電動轉塔 1X-2X-6X
圖像傳感器		B&W CCD ( 1/2 吋 )
影像測量精度 * 2	E 1X /E 1Y	( 0.8+2L/1000 ) µm
	E 1Z	( 1.5+2L/1000 ) µm
	E 2XY	( 1.4+3L/1000 ) µm

*1 WLI 光學測頭的可移動范圍。

*2: 按照本公司檢查方法。 L 為任意 2 點間的尺寸 ( mm ) 。

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